電纜系統(tǒng)超低頻介損測試方法

1.1產(chǎn)品特點介紹

本產(chǎn)品采用了數(shù)字變頻技術，單片機控制，升壓、降壓、測量、保護*自動化。由于全電子化，所以體積小重量輕，采用大屏幕彩色觸摸顯示屏，清晰直觀、操作簡單、顯示輸出波形。設計指標符合《電力設備專用測試儀器通用技術條件，第4部分：超低頻高壓發(fā)生器通用技術條件》國家標準，使用簡單方便。主要特點如下：

1.1.1額定電壓小于或等于50kV的超低頻采用單聯(lián)結構（一臺升壓器）；大于50kV的超低頻采用串聯(lián)結構（兩臺升壓器串聯(lián)），使整體重量大大減輕，帶載能力增強，而且兩臺升壓器都可單獨使用，達到一機多用。

1.1.2電流、電壓數(shù)據(jù)均直接從高壓側采樣獲得，所以數(shù)據(jù)準確。

1.1.3智能綜合保護功能：不需設置電流電壓保護值，儀器能根據(jù)試品電容量的大小和試驗電壓值，計算過壓過流保護值，還能對電壓電流突變產(chǎn)生保護，所以能捕捉到放電情況。保護動作時間都小于20ms。

1.1.4采用150kv高壓線輸出，安全、可靠。

1.1.5由于采用了閉環(huán)負反饋控制電路，所以輸出無容升效應。

1.1.6新產(chǎn)品增加了介損測量功能，可同時測量試品的介損、電容量和絕緣電阻。

1.2超低頻高壓電源系列產(chǎn)品規(guī)格:表1

1.3超低頻高壓電源通用技術指標

1.3.1輸出額定電壓：30kV-80kV。不同規(guī)格見表1

1.3.2輸出頻率：自動變頻范圍：0.1Hz-0.01Hz

1.3.3帶載能力：見表1

1.3.4測量精度：≤3%

1.3.5電壓正，負峰值誤差：≤3％

1.3.6電壓波形失真度：≤3％

1.3.7使用條件：戶內、戶外；溫度：-10℃∽+40℃；濕度：≤85％RH

1.3.8輸入電源：頻率50Hz，電壓220V±5%。若是用微型發(fā)電機供電，應使用變頻發(fā)電機，不能用普通發(fā)電機，因為普通發(fā)電機轉速不穩(wěn)定，會使升壓不正常，損壞儀器。

1.4超低頻高壓電源主體結構

1.4.1對于額定電壓在50kv（含50kv）以下的超低頻采用一臺升壓器，稱為單聯(lián)型超低頻，其結構以及各部件說明于下圖：

超低頻介損試驗操作方法

按上述連接好現(xiàn)場試驗系統(tǒng)后，接通電源就可進入試驗中。控制箱觸摸屏首頁是連線圖選擇，應選擇介損測試連線圖進入?yún)?shù)設置界面，試驗時間，試驗電壓，按試驗要求修改。點擊要修改的數(shù)據(jù)，會彈出數(shù)字鍵盤，輸入所需的數(shù)據(jù)。為了保證安全，系統(tǒng)對錄入的數(shù)據(jù)做了限定：試驗電壓范圍3kv至額定值；試驗時間1-99分鐘，試驗時間在介損試驗中是一個無用的參量，但它會引起停機，所以為了避免意外停機，可將時間設大些。升壓步數(shù)也是一個無用的參數(shù)，不需要修改，介損試驗是按固定程序進行的。試驗結束后本次參數(shù)會自動保存為下次試驗的默認值。點擊“介損試驗"將進現(xiàn)場連線圖選擇：單端屏蔽法連線圖和雙端屏蔽法連線圖（詳細說明見“3.6怎樣消除電纜表面泄露電流對介損的影響"）。選擇現(xiàn)場連線圖后將入試驗中。儀器*入自檢，自檢是對試品進行預試，對儀器自身進行校準，自檢時間的長短與電纜長度有關，電纜越長自檢時間越長，大若一至五分鐘，需要耐心等待。自檢完成后自動進入介損連續(xù)測試中，可以同時測出介損、電容量、絕緣電阻值，每個周期更新一次數(shù)據(jù)（10秒）。我公司設計的越測越穩(wěn)，越測越準技術，幾個測量周期后數(shù)據(jù)會變得非常穩(wěn)定就可以停機讀數(shù)。系統(tǒng)對試驗過程提供智能保護：過壓、過流、電壓電流突變、放電等產(chǎn)生保護動作。停機過程會自動對試品放電。停機后可打印或保存本次數(shù)據(jù)，能循環(huán)保存九十組。在歷史數(shù)據(jù)查詢中可打印選中的數(shù)據(jù)記錄。屏幕最上面一行是儀器的工作狀態(tài)提示，包刮一些儀器的故障信息。因為有觸控鍵提示和幫助信息，在不看說明書的情況下，可以循作提示進行操作。拆線前應先拔掉電源線，用放電棒對試品放電，再短路放電，再進行拆線操作。如果被試電纜長度小于100米,儀器不能輸出光滑的正弦波電壓，可將補償電容器并聯(lián)在試品端，在參數(shù)設置界面上選擇“加補償電容"，這樣試驗結果會扣除補償電容的影響。補償電容必須用本產(chǎn)品所帶的，因為儀器里預置了此電容的參數(shù)。四個主要操作界面如下：

3.6怎樣消除電纜表面泄露電流對介損的影響

   當空氣濕度較大，或電纜端部表面有污物時，會在電纜表面形成泄露電流，會增大介損值，影響對電纜本體絕緣性能的判斷。所以在做介損試驗時，要消除這種影響。方法是在電纜頭端部的下半部分纏繞一個屏蔽環(huán)，用連線引至控制箱的屏蔽端子上。因為電纜兩端都有表面泄露電流，理論上兩邊都要測量，方法是在被測相電纜端部靠近電纜接地的位置分別制好屏蔽環(huán)，借用一根未測的相線連接遠端屏蔽環(huán)，然后將兩端屏蔽環(huán)信號并聯(lián)連接至儀器的屏蔽端子上。這種方法叫雙端屏蔽法。這種連線屏蔽線的方法在現(xiàn)場顯然是不方便的，為了簡化這個問題，我們把兩端的泄露電流近似看成一樣大，只測一端的泄露電流，在介損的測試時扣除兩倍的泄露電流。這種方法叫單端屏蔽法。接線方法見上面的介損的現(xiàn)場連線圖。儀器是根據(jù)你選擇的連線圖來確定測試模式，所以在觸摸屏上操作過程中選擇的測試連線圖應與實際的連線圖一致否則測試介損結果會有較大誤差。若空氣濕度小，電纜端部表面干凈可不接屏蔽線。

3.7超低頻介損試驗規(guī)程（Q/CSG1205027-2020 6kV-35kV電纜系統(tǒng)超低頻介損測試方法）介紹

    用介損數(shù)據(jù)判別電纜的絕緣性能主要內容摘要如下,僅供參考：

3.6.1介損的測試點0.5U0、U0、1.5UO

3.6.2超低頻電纜介損測試值處理意見表

對上表說明：

以介損平均值、介損變化量和介損穩(wěn)定性的絕對值作為評價指標，或者根據(jù)與歷史數(shù)據(jù)做比較的結果，可將電纜絕緣的狀態(tài)分為如下 3 種：

a) 正常狀態(tài)：無需采取檢修行動。

b) 注意狀態(tài)：建議進一步測試。定期對該電纜線路進行復測，建議時間間隔為 1 年，

若復測結果沒有明顯變化，可以繼續(xù)投入運行；若復測結果已明顯變大，或結果值已進入需

要采取檢修行動的范圍，應立即檢查電纜線路缺陷位置，及時進行更換。

c) 異常狀態(tài)：需要采取檢修行動。應立即檢查電纜線路缺陷位置，及時進行修復或更換。